訂購高低溫試驗(yàn)箱，相關(guān)誠如如下東莞勤卓環(huán)測科技銷售專線→ 確定相關(guān)技術(shù)參數(shù)→簽訂合同→勤卓科技送貨上門→勤卓科技技術(shù)人員上門安裝和調(diào)試設(shè)備及操作備詢→后期定期維護(hù)。 一、高低溫試驗(yàn)箱購買須知符合標(biāo)準(zhǔn)
高低溫試驗(yàn)箱符合GB/T2423.1-2001、GB/T2423.2-2001試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
二、高低溫試驗(yàn)箱購買須知規(guī)格與技術(shù)參數(shù)
性能指標(biāo) 溫度范圍 A-20℃～150℃ B-40℃～150℃ C-60℃～150℃ D-70℃～150℃購買PCB高低溫試驗(yàn)箱怎么選擇其老化功能溫度范圍
波動(dòng)/均勻度 ≤±0.5℃/≤±2℃
升溫速率 1.0～3.0℃/min
降溫速率 0.7～1.0℃/min
控制系統(tǒng) 控制器 進(jìn)口LED數(shù)顯P、I、D S、S、R.微電腦集成控制器
精度范圍 設(shè)定精度溫度±0.1℃，指示精度溫度±0.1℃，解析度±0.1℃購買PCB高低溫試驗(yàn)箱怎么選擇其老化功能溫度范圍
傳感器 鉑金電阻 PT100Ω/MV
加熱系統(tǒng) 全獨(dú)立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器
制冷系統(tǒng) 全封閉風(fēng)冷單級(jí)壓縮制冷方式/原裝法國“泰康”/全封閉風(fēng)冷復(fù)迭壓縮制冷方式
循環(huán)系統(tǒng) 耐溫低噪音空調(diào)型電機(jī).多葉式離心風(fēng)輪
使用材料 外箱材質(zhì) 優(yōu)質(zhì)碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理
內(nèi)箱材質(zhì) SUS304不銹鋼優(yōu)質(zhì)鏡面光板
保溫材質(zhì) 聚胺脂硬質(zhì)發(fā)泡、超細(xì)玻璃纖維綿
門框隔熱 雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條
標(biāo)準(zhǔn)配置 多層加熱觸霜附照明玻璃視窗1套、試品架2個(gè)、測試引線孔（25、50、100mm）1個(gè)
安全保護(hù) 漏電、短路、超溫、電機(jī)過熱、壓縮機(jī)超壓、過載、過電流保護(hù)
定時(shí)功能 0.1～999.9（S、M、H）可調(diào)
電源電壓 AC380V±10％ 50±0.5Hz 三相五線制
使用環(huán)境溫度 5℃～＋30℃ ≤85％R.H
三、高低溫試驗(yàn)箱購買須知產(chǎn)品用途
高低溫試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的檢測設(shè)備，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫、低溫溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
四、高低溫試驗(yàn)箱購買須知結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。
箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級(jí)不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了高低溫試驗(yàn)箱外觀質(zhì)感和潔凈度。
高低溫試驗(yàn)箱配有大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號(hào)線使用。
五、高低溫試驗(yàn)箱購買須知控制器
高低溫試驗(yàn)箱溫度控制采用全進(jìn)口觸摸按鍵式儀表，操作設(shè)定簡單。（日本RKC）
資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。
控制器具有P.I.D自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。
可選配打印機(jī)。
六、高低溫試驗(yàn)箱購買須知冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)
高低溫試驗(yàn)箱制冷機(jī)采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī)。
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。
升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。
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